发表于:2024/6/14 10:47:02
#10楼
就单个元件的检测,能胜任吗?~可以就多上几台PLC
12个相同条件判定移位处理~是要给不同测试条件测出对应数据吗?
考虑过PLC的IO响应吗?别只盯着扫描周期,测试条件的变化,要给继电器反应时间~查一下PLC的继电器动作时间,遇到可能的打架情况还要给出空场时间。
你这个应该可以通过增加测试设备解决产能问题
与我30多年前遇到的应该不同~它在测试条件转换时间上也有严格要求~电子管参数传送,最后还是继续使用苏联提供的机器
12个相同条件判定移位处理~是要给不同测试条件测出对应数据吗?
考虑过PLC的IO响应吗?别只盯着扫描周期,测试条件的变化,要给继电器反应时间~查一下PLC的继电器动作时间,遇到可能的打架情况还要给出空场时间。
你这个应该可以通过增加测试设备解决产能问题
与我30多年前遇到的应该不同~它在测试条件转换时间上也有严格要求~电子管参数传送,最后还是继续使用苏联提供的机器
快乐 幸福 自由 比什么都重要