NI SMU - 电性能测试的最佳选择

    源测量单元(SMU)可同时控制与量测高精度电压、电流，专为消费性电子产品、IC设计与验证、生医、学术研究等实验室提供电性能测试。NI为自动化测试的领导者，透过PXI平台、源测量单元与其他模块化仪器，为用户提供定制化、弹性扩充与高精度测试解决方案。

    源测量单元(SMU)是实验室特性分析和自动化测试应用中，用于分析设备电流-电压(I-V)特性的主要仪器。 PXI SMU可为您的系统提供高功率、高精度且高速的源测量功能，助您解决各种应用需求。尤其是以下特点：
    *测量速度比台式SMU快50倍（高达1.8 MS/s）
    *在小巧的空间中提供四个通道
    *10 fA测量灵敏度

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   NI源测量单元(SMU)和可编程电源资源包
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   电性能测试的最佳选择-NI SMU简介
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   淘汰传统台式仪器 - PXI SMU 优惠方案
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