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机电一体化

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发表于:2013/11/11 15:14:49
#0楼
部分客户为判断晶闸管的阻断特性,使用兆欧表对器件进行测试。由于该方法从原理上不能真实反映器件的性能,而且可能对器件具有一定的损坏性,因而一般半导体产品,均不推荐采用兆欧表测试。
兆欧表的基本原理是采用手摇发电机输出一定数值的高电压,施加在被测端子上,通过检测端子间的漏电流,测试出绝缘电阻。兆欧表的输出电压有500、1000、2500V等多种规格。
采用兆欧表测试晶闸管等半导体器件时,兆欧表显示的绝缘电阻不能真实反映器件的阻断特性。由于半导体器件的漏电流与施加的电压之间具有非线性关系,在室温下,器件漏电流的正常值从零点几个毫安到几个毫安都是有可能的,在此种情况下,器件断态电压与漏电流的比值变化范围很大,用该数值不能真实判断器件的阻断特性。
器件一般都在85±15℃的结温下工作,所以高温阻断特性的稳定性才是器件使用质量的关键。由于半导体器件阻断特性的非线性,结温时器件的电阻一般只有几百欧,与室温测试的电阻相差甚远,所以室温测试的电阻值无使用价值。我公司严格执行:
1. 产品执行(测试)标准
标准名称
标准号
电流覆盖范围
快速晶闸管
JB/T 4193—1997
5~1600A
1800A-4000A 快速晶闸管
Q/TS 101-2006
1800~4000A
电流大于100A普通晶闸管
JB/T 8950.2-1999
110~1000A
KP 系列1000A 以上管壳额定反向阻断三极晶闸管
JB 5838-91
1250~2500A
3000A-5000A 普通晶闸管
Q/TS 102-2006
3000~5000A
2. 测试条件及方法:
2.1. 快速晶闸管
a. 25±5℃下,按《反向阻断三极晶闸管测试方法》(标准编号JB/T 7626—94,以下简称:
测试方法)标准规定的方法,测试器件的正反向阻断电压;
b. 115±5℃下,按《测试方法》标准规定的方法,测试器件的正反向阻断电压。
2.2. 普通晶闸管
a. 25±5℃下,按《测试方法》标准规定的方法,测试器件的正反向阻断电压;
b. 125±5℃下,按《测试方法》标准规定的方法,测试器件的正反向阻断电压。
2.3. 测试方法:
2.3.1. 器件门极开路,从0 开始逐渐增加对元件的测试
电压,电压按下列之一读取:
a. 当曲线出现明显转折时,在转折的中点处取
VRM/IRM(右图曲线2);
b. 当曲线无明显转折点时,取IRM达到规定值时的
电压值为VRM(右图曲线1)。
3. 测试设备:晶闸管阻断特性测试仪和交流阻断测试仪。该设备的工作原理等同国际IEC
和国家标准。设备使用控制:
a. 每天有标准仪器对设备进行校对;
b. 计量室定期进行计量;
c. 设备发现异常或修理后进行计量。
4. 产品质量控制
a. 按第2条规定的条件和方法,用晶闸管阻断特性测试仪逐只测试产品的阻断特性。
b. 按批产品的5%比例抽测,用交流阻断测试仪检测产品的阻断特性(可靠性试验),标
准规定之外测试项目。
c. 每个月:质量部对成品库产品抽测。
d. 每个季度:襄樊市技术监督局对成品库产品抽测。
e. 每年对不同的品种做周期试验,且保证在3 年内对所有的品种至少做一次周期试验。
f. 当产品的材料、工艺和操作方法发生变更后,必须做产品的鉴定试验,合格后才能批
量供货。
5. 兆欧表测试存在的问题,兆欧表在测试器件中器件存在如下风险:
l         兆欧表采用手摇发电机输出电压,该电压在实际操作过程中,还具有一定波动性,而且可能会超过半导体器件的击穿电压,因而采用兆欧表测试时,存在击穿器件的风险。鉴于此,各种半导体产品,一般都禁止采用兆欧表进行测试
l        采用兆欧表测试平板式晶闸管器件时,如果对器件未施加足够的压力,器件管壳内部芯片尚处于悬空状态,当电压升高到一定程度时,会将芯片与管壳内台面之间的间隙击穿,高电压突然施加在芯片上,由于芯片两端存在结电容,致使该瞬间有一较大漏电流流过,从而引起打火,有可能会损伤器件。
所以再次提醒顾客不能用采用兆欧表测试产品的阻断特性,且因此方法得出的测试结论和导致的产品损失我公司一律不予认可。
鉴于一般应用客户不具备晶闸管阻断特性测试仪等测试设备对晶闸管进行定量判断,仅能用万用表对晶闸管进行简易好坏的定性判断,即对晶闸管的AK、GK是否短路或是否开路进行简易判定。
简易判断晶闸管是否短路或开路可用以下两种方法:
   (1)晶闸管的简易测试一般可用万用表(最好是500型的模拟表)的欧姆挡检查晶闸管的阳极和阴极之间有无短路。将电表置于只×1k挡,测量阳极与阴极之间的正向电阻(万用表的黑表笔接阳极,红表笔接阴极或控制极)和反向电阻(万用表的红表笔接阳极,黑表笔接阴极或控制极),正常时阻值均应很大(一般在30千欧以上)。
   (2)检查控制极与阴极之间有无短路或开路,将电表置只×1挡,测出控制极与阴极的正向电阻(万用表的黑表笔接控制极,红表笔接阴极)一般应为6欧姆到100欧姆之间,反向电阻值(红表笔接控制极,黑表笔接阴极)与正向电阻值相当,或比正向电阻要大一些。其正向电阻值不能为零或不大于一百欧姆。
以上测试只能判断晶闸管的AK、GK是否短路或断路,不能定量判断晶闸管的好坏,要定量判断晶闸管的好坏只能用晶闸管测试仪。
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发表于:2013/11/11 16:39:56
#1楼
聚个人气。
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发表于:2013/11/11 19:32:15
#2楼
兆欧表测可控硅?那很容易把模块或单硅元件搞坏的。这是常识了。
我是你的朋友
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卢学斌
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发表于:2013/11/11 21:52:18
#3楼
还有这样测量的?
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xquan
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发表于:2013/11/12 0:35:09
#4楼
回复 #2楼 kdrjl
借个兆欧表来个无中生有的标题,本公司的产品才是文章!
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发表于:2013/11/12 9:45:15
#5楼
学习了
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发表于:2013/11/12 11:15:09
#6楼
论坛的本身的作用也是同行交流,资源共享。
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发表于:2013/11/12 11:16:03
#7楼
回复 #2楼 kdrjl
此文章出处于台基技术部
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发表于:2013/11/12 11:16:22
#8楼
回复 #4楼 xquan
论坛的本身的作用也是同行交流,资源共享。
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发表于:2013/11/12 18:07:54
#9楼
以下是引用kdrjl2013/11/11 19:32:15的发言:
兆欧表测可控硅?那很容易把模块或单硅元件搞坏的。这是常识了。
没有基本知识的就会这样做,脑子短路了也会
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