发表于:2021/11/8 19:35:10
#0楼
1、都知道,在变频器RUN状态下,是绝对不能直接测试IGBT的G极的,即使测试驱动芯片的输出端也是不可以的。因为,表笔有可能有较大的感应电压,或者,万用表、示波器的表笔及内部电路的电路电容,会影响被测IGBT的G极(高阻抗)工作状态,改变IGBT的导通时序,造成IGBT损坏。
2、那么,变频器正常RUN运行状态,能不能用示波器探测驱动芯片的输入端(内部发光二极管2端)信号PWM波形?也就是说,会不会因为探测驱动芯片的输入端,而影响输入PWM信号的波形(相位、波形、幅值等参数),进而造成IGBT损坏?
3、驱动芯片的输入端是光电LED,导通电流为几个到十几个mA,按道理是低阻抗回路,不会有影响。
实际上,实践证明,用万用表检测驱动芯片的输入端,是不影响的。但没有试过示波器测试驱动芯片输入端。
2、那么,变频器正常RUN运行状态,能不能用示波器探测驱动芯片的输入端(内部发光二极管2端)信号PWM波形?也就是说,会不会因为探测驱动芯片的输入端,而影响输入PWM信号的波形(相位、波形、幅值等参数),进而造成IGBT损坏?
3、驱动芯片的输入端是光电LED,导通电流为几个到十几个mA,按道理是低阻抗回路,不会有影响。
实际上,实践证明,用万用表检测驱动芯片的输入端,是不影响的。但没有试过示波器测试驱动芯片输入端。
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